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sem掃描電鏡如何準(zhǔn)備測(cè)試樣品？
日期：2022-12-13 11:14:47 作者：微儀viyee 瀏覽次數(shù)：295" data-sid="11" data-cid="295">0
掃描電鏡是一種平面形貌表征測(cè)試技術(shù)，具備一定的三維方向上的表征能力，但受限于電子探針的檢測(cè)深度有限，在垂直于視場(chǎng)方向上景深一般不超過1μm，結(jié)合sem掃描電鏡的測(cè)試原理，對(duì)于樣品的要求主要有如下兩點(diǎn):
1.樣品表面起伏不大；
2.樣品表面導(dǎo)電。
這就確定了制樣的基本原則:
1、對(duì)于宏觀粉末樣品，直接平鋪分散到導(dǎo)電膠上即可；
2、對(duì)于塊狀樣品，則需要將待觀察面朝上，且待觀察面需要與樣平臺(tái)面保持平行，固定于樣平臺(tái)上。對(duì)于導(dǎo)電性差的材料，需要進(jìn)行表面噴金或通過導(dǎo)電膠粘連樣品表面和樣平臺(tái)的手段，*終目的仍然是保證待觀察面的平整和導(dǎo)電。
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